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Personen: Wang, Chun (Autor) 
Krausch, Georg (Autor) 
Geoghegan, Mark (Autor) 
  
Titel: Dewetting at the polymer-polymer interface : thickness dependence
  
Quelle: Langmuir. Bd. 17. H. 20. Washington, DC : ACS Publ. S. 6269 - 6274
Erscheinungsjahr:    2001
ISBN / ISSN: 1520-5827 ; 0743-7463
URL der Originalveröffentlichung doi:10.1021/la010585q
  
Dokumentart:
Zeitschriftenaufsatz Zeitschriftenaufsatz
Sprache: Englisch
Open Access:
Person der Universität:   
Einrichtung: Universitätsleitung
DDC-Sachgruppe:    Physik
ID: 53569  Universitätsbibliothek Mainz
Hinweis:
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Abstract: We have used optical microscopy and scanning force microscopy to study the dewetting of polystyrene from poly(methyl methacrylate) on silicon substrates as a function of film thickness. We have performed measurements for bilayers with a lower layer more viscous than the upper layer, as well as for the opposite situation. For a solidlike (highly viscous) lower layer, the dewetting speed is constant and independent of the thickness of the polystyrene film. However, for a liquidlike lower layer, the radius of the dewetted holes grows as t2/3, where t is the annealing time, and depends on the thickness of both layers. The absolute values of the dewetting speed are in reasonable agreement with theoretical predictions.
   
  
Verfügbarkeit prüfen:    Rechercheportal Mainz: 1520-5827/0743-7463
  Elektronische Zeitschriftenbibliothek (EZB): 1520-5827 oder 0743-7463
 


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