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Personen: Chaturvedi, U. K. (Autor) 
Steiner, U. (Autor) 
Zak, O. (Autor) 
Krausch, Georg (Autor) 
Schatz, G. (Autor) 
Klein, J. (Autor) 
Titel: Structure at polymer interfaces determined by high‐resolution nuclear reaction analysis
Quelle: Applied physics letters. Bd. 56. H. 13. Melville, NY : American Inst. of Physics. S. 1228 - 1230
Erscheinungsjahr:    1990
ISBN / ISSN: 1077-3118 ; 0003-6951
URL der Originalveröffentlichung doi:10.1063/1.103332
Zeitschriftenaufsatz Zeitschriftenaufsatz
Sprache: Englisch
Open Access:
Person der Universität:   
Einrichtung: Universitätsleitung
DDC-Sachgruppe:    Physik
ID: 53592  Universitätsbibliothek Mainz
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Abstract: We describe a method based on nuclear reaction analysis, using the reaction2H(3He, 4He)1H, (Q=18.352 MeV) to determine composition profiles of deuterated polymer chains in thin films. By detecting the emitted α particles (4He) at forward angles (30°) we are able to achieve a spatial resolution of 7 nm half width at half maximum (HWHM) at the deuterated sample surface, and 15 nm HWHM at a depth of some 130 nm. We use our method to probe initial diffusional broadening at the interface between deuterated and protonated polystyrene films. Our measured profiles are in close agreement with earlier measurements (over larger spatial scales) and with mean field models for the diffusional process in this system.
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