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Personen: Krausch, Georg (Autor) 
Wegscheider, S. (Autor) 
Kirsch, A. (Autor) 
Bielefeldt, H. (Autor) 
Meiners, J. C. (Autor) 
Mlynek, J. (Autor) 
  
Titel: Near field microscopy and lithography with uncoated fiber tips : a comparison
  
Quelle: Optics communications. Bd. 119. H. 3-4. Amsterdam : Elsevier. S. 283 - 288
Erscheinungsjahr:    1995
ISBN / ISSN: 0030-4018
URL der Originalveröffentlichung doi:10.1016/0030-4018(95)00280-L
  
Dokumentart:
Zeitschriftenaufsatz Zeitschriftenaufsatz
Sprache: Englisch
Open Access:
Person der Universität:   
Einrichtung: Universitätsleitung
DDC-Sachgruppe:    Physik
ID: 53595  Universitätsbibliothek Mainz
Hinweis:
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Abstract: We show that lateral resolution well beyond 100 nm can be obtained in scanning near-field optical microscopy (SNOM) using uncoated glass fiber tips in the internal reflection mode. Exposure of a photosensitive layer through the tip of a tapered optical fiber reveals that the illuminated area underneath the fiber tip is far larger than the best resolution obtained in microscopy. This finding points to the importance of the particular beam path in an internal reflection mode SNOM experiment. Lithographic experiments with metal coated fiber tips show that in this case, the light field emitted by the tip is indeed confined to an area below 100 nm.
   
  
Verfügbarkeit prüfen:    Rechercheportal Mainz: 0030-4018
  KatalogPortal Mainz (inklusive FB 06): 0030-4018
  Elektronische Zeitschriftenbibliothek (EZB): 0030-4018
 


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